
PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測(ce)量和(he)分(fen)析功能于一體,不僅(jin)提供IV、CV、跨導(dao)等多元(yuan)化的測(ce)試(shi)(shi)功能,具備高電(dian)(dian)(dian)壓和(he)大電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)特性(10kV/6000A),以(yi)及μΩ級(ji)精確電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)量和(he)nA級(ji)漏電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)測(ce)量能力,能夠全面滿足從基(ji)礎(chu)功率(lv)二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半(ban)導(dao)體SiC、GaN等晶圓、芯片(pian)、器件及模塊(kuai)的靜態參數表征和(he)測(ce)試(shi)(shi)需求,為功率(lv)半(ban)導(dao)體行(xing)業提供穩定可靠的測(ce)試(shi)(shi)解(jie)決方(fang)案(an)。

值得一提的是,PMST系列功率器件靜態參數測試系統核心的E系列高電壓源測單元、HCPL100高電流脈沖電源、P系列高精度臺式脈沖源表均由普賽斯(si)儀(yi)表自主研(yan)發,全面突(tu)破高端(duan)國際設(she)備技術瓶頸(jing),實現自主可(ke)控。模塊化的(de)設(she)計(ji)使得(de)測試(shi)方法更(geng)加靈活,用戶可(ke)以根據實際需求添(tian)加或升級(ji)測量(liang)模塊,適應(ying)功率(lv)器件不斷變化的(de)測試(shi)需求。
此外,針對操作人員安全以及適應各種功率器件封裝類型的需求,定制化的測試夾具顯得尤為重要(yao)。普賽斯儀表針對市場上多(duo)樣化(hua)的(de)功率半導體產品(pin)封(feng)裝類型,提供了一(yi)整套(tao)全面且(qie)(qie)精細的(de)夾具(ju)(ju)解(jie)決方案。這些夾具(ju)(ju)不(bu)僅具(ju)(ju)備(bei)低阻抗、安(an)裝便捷等顯著特點,而(er)且(qie)(qie)種類繁多(duo),能夠滿足SiC單管、模(mo)組(zu)類產品(pin)的(de)測試。





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