7月8日，2024慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心開幕，本屆展會以新能源汽車、儲能、智能駕駛、衛星通信、機器人、可穿戴、智能建筑、邊緣智能、智慧電源、第三代半導體等應用領域為年度熱門趨勢，匯聚國內外優質電子企業，旨在打造從產品設計到應用落地的橫跨產業上下游的專業展示平臺。普賽斯儀表攜半導體測試測量設備及測試解決方案亮相E7館 7162展位。

        半導體材料芯片品牌最為光電水平數據制作業高峰，是國家金錢和世界 金錢發展的發展理念性、先導性和基礎上性品牌， 包涵不少高端學科水平。“碳達峰”、“碳采和”工作目標也直接提出和明確了能源資源資源成分更改方向上，之后將環保節能碳排放、低碳技術國家金錢融入性高潮。以IGBT為代表性的最大功率半導體材料芯片是電能光電水平產品的層面元器件封裝，也是能源資源資源轉成與視頻傳輸的關鍵點。

        在新能源汽車、光伏儲能、軌道交通、工業控制等領域，增碳硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代半導體材料由于其具有高溫、高壓、高頻、抗輻射等特點備受青睞，可實現更高效的電子電力設備。然而，由于其上市應用時間相對較短，潛在的缺陷尚未完全暴露，失效機制也尚未清晰。因此，通過科學合理的測試圖片精確測量法律手段，對其進(jin)行有效的評估和驗證尤為重要。

        通常，IGBT/SiC/GaN功率半導體器件特性測試分為靜態特性測試和動態特性測試，靜態特性測試主要是表征器件本征特性指標，如擊穿電壓 V(BR)DSS、漏電流ICES/IDSS/IGES/IGSS、閾值電壓VGS(th)、跨導Gfs、壓降VF 、導通內阻RDS(on)等；動(dong)態特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)是(shi)功(gong)率(lv)半導體器件(jian)的重要特(te)(te)性，如開通特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、關斷特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、FRD反向恢復特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、柵極(ji)電荷特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、短(duan)路特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、模塊電感特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、安(an)全工作區SOA特(te)(te)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)等，主要采(cai)用雙脈沖測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)進行。

深度融合

  功率半導體電性能表征一站式解決方案  

                普賽斯儀表盤以目標源表為地基，集焦工作電壓半導體技術高高技術軟件測試圖片需要，從底部研發管理關注，全力引領多維高高技術的要融合轉型升級，對目標高高技術扶貧克難攻堅，博覽會現場展出了了工作電壓半導體技術高高技術外部軟件測試圖片混合式化解決方法方案格式。

PMST系列功率器件靜態參數測試系統

        PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測量和分析功能于一體，不僅提供IV、CV、跨導等多元化的測試功能，具備高電壓和大電流特性（10kV/6000A），以及μΩ級精確電阻測量和nA級漏電流測量能力，能夠全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態參數表征和測試需求。核心區重要性多功能儀表均自主化研發管理，憑借其(qi)優異的(de)性能、靈活的(de)配置和易操作(zuo)的(de)用戶界面，成(cheng)為眾多功率半導(dao)體廠家靜態參(can)數(shu)測試的(de)優選(xuan)工(gong)具(ju)。

SPA6100半導體技術參數值講解儀

        SPA6100半導體參數分析儀可以同時支持DC電流量-輸出功率(I-V)、電解電容-輸出功率(C-V)以及高流各類高壓下脈沖造成的式I-V特點的測試。產品支持最高1200V額定電壓、100A大工作電流量、1pA小工作電流量識別率的測(ce)量(liang)，同(tong)時(shi)檢測(ce)10kHz至1MHz范圍內的多(duo)頻AC電容(rong)測(ce)量(liang)。搭(da)載專用半(ban)導體參數測(ce)試軟(ruan)件,支持交互式(shi)手動操作(zuo)或結合探針臺的自動操作(zuo),能夠(gou)從(cong)測(ce)量(liang)設(she)置(zhi)、執(zhi)行、結果分(fen)析到數據管理的整個過程，實現高(gao)效和(he)可重(zhong)復的器件表征(zheng)；也(ye)可與高(gao)低(di)溫箱(xiang)、溫控模(mo)塊等搭(da)配使用，滿足高(gao)低(di)溫測(ce)試需求。

        然而，為融入各式輸出功率元件封裝內型內型的需要，普賽斯儀表板可提拱各樣化、精準化、訂做化的卡具滿足預案，可履蓋TO單管、半橋模組、380V半橋模組等廠品的測量。

        展會現場，普賽斯儀表還展示了自主研發的核心源表型號(SMU)、激光脈沖恒流源 (FIMV)、油田外接電源 (FIMV、FVMI)、大信息采集工具卡等(deng)產品，以及從材料、晶圓(yuan)到器件的半導體全產業鏈電性能測試解決方案，吸引(yin)了(le)眾多業內人士的關注。

結語

        低碳化、智能化是整個電子信息產業的長遠發展目標，也是未來的主旋律，而實現目標需要產業鏈的協同努力。可靠性效率的測試機械，是半導體芯片該行業未來發展和持續發展不能不或缺的關鍵過程最為。

        普賽斯儀器看作中國大陸第二家進行目標進行精密模具源/精確測量單元測試測試卷SMU財產化的中小型企業，具備數年的技能積累更多和革新科技成果，中國未來將一直以來都持之以恒革新帶動、不斷地擴大科研資金投入，以來詢異的測試測試技能推動財產提升!